日本能率協会(JMA)が主催する公開セミナー  JMAマネジメントスクール

日本能率協会(JMA)が主催する公開セミナー  JMAマネジメントスクール
様専用ログアウト

JMAマネジメントスクール > 開発・設計・技術 > FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック

セミナーID:150937

現場実務で役立つ・使える!

FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック

対象:開発・設計・技術

エリア大阪

期間1日

※このセミナーについては受付を終了しておりますが、ご参考までに内容を表示しております。

実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説します。

開催概要

 赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されています。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立しています。
 ところが、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていくかに課題をお持ちの方は依然として多いようです。残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説するものの、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ないと言わざるをえません。
 本セミナーは、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心としました。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説します。


対象


・ 研究開発部門、研究機関のご担当者、リーダーの方 
・ 企業等の分析部門、大学等の分析センター、公設試験センターの担当者、リーダー、等
・ その他、技術部門全般で本テーマにご関心のある方


本セミナーで習得できる知識


□ 赤外分光法の各種測定法
□ アタッチメント特徴と測定技術
□ 様々な試料・目的に合わせた測定法
□ スペクトル処理・解釈の考え方
□ 混合物解析の実際の手順
□ 赤外分光法を用いた問題解決の手順

プログラム

項目 内容
1日
10:00~16:30

1 赤外分光法の基本原理と特徴

(赤外分光法の基本原理と特徴)

2 代表的な測定法

•透過法

•全反射法(ATR)

•ATR法のバリエーション

•ATR結晶(IRE)の特性

•FTIR-ATRにおける測定深さ

•ATR法における注意点

•ATR補正

•異常分散によるスペクトルへの影響

•様々なATRアタッチメント

•毒劇物としてのATR結晶(IRE)

•反射法

•拡散反射法

•光音響分光法(PAS)

•ガスセル

•主な測定法のまとめ

•顕微赤外

•ラマン分光法との対比

3 赤外スペクトル

•赤外スペクトルの概要

•主な吸収帯

•指紋領域の利用

•カルボニル基の判別

•スペクトルサーチ

•スペクトルデータベース

•代表的検索アルゴリズム

•検索アルゴリズムの限界

•ヒットスコアの罠

•検索結果の間違い例

•スペクトルサーチのコツ

•差スペクトル

•混合解析

•オープンライブラリ

•系統分析

•帰属の考え方

4 定量分析

•検量線法

•ピーク強度比法

•内標準法

•誤差要因

5 大気成分補正

(大気成分補正)

6 測定条件

(測定条件)

7 スペクトル処理

•ベースライン補正

•ベースライン(ピーク強度)

•ピーク高さと面積

•自動処理の注意点

8 混合物の解析

(混合物の解析)

9 様々な試料

•バルク

•フィルム

•紛体

•液体

•異物・微小部

•繊維

•汚染・付着物

•黒色試料

10 高次構造

(高次構造)

11 結晶解析

(結晶解析)

12 融解

(融解)

13 配向

(配向)

14 水素結合

(水素結合)

15 バルク(全体平均)分析

(バルク(全体平均)分析)

16 表面分析

(表面分析)

17 深さ方向分析

•断面の利用

•精密斜め切削法

•傾斜面の例

•研磨法

•角度変化法

18 温度変化測定

(温度変化測定)

19 FTIRにおける注意点

•ATRにおける異常分散

•ATRにおける試料変形の影響

•ATRにおける試料の置き方の影響

•ATRにおける押し圧の影響

•KBrと試料との反応

•KBr錠剤法の粉砕粒度の影響

•表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制

•プレスホルダーによる干渉縞抑制

20 事 例

•フィルム上汚染

•UV表面処理による構造変化の深さ方向解析

•UV照射によるオレフィンの構造変化

•UV照射による添加剤入りPVCの構造変化

•ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析

•Pi/Cu/Si界面の解析

•時間分解測定

21 仮説思考による研究開発と問題解決

(仮説思考による研究開発と問題解決)

22 質 疑

(質疑)

ご案内

講師


奥村 治樹
ジャパン・リサーチ・ラボ 代表

東レ、パナソニック等にて材料開発や開発マネジメントに従事。その後、化学系ベンチャー企業などを経て現在は、ジャパン・リサーチ・ラボ代表として技術コンサルティング、人材育成を行う傍ら、大学での講義や中小企業の育成事業等に携わっている。博士(工学)


会場について


開催会場は変更する場合があります。その場合は別途ご案内いたします。


料金について


・参加料にはテキスト(資料)・昼食費が含まれております。
・本事業終了時の消費税率を適用させていただきます。


定員について


・参加者数が最少催行人数に達しない場合は、延期もしくは中止にさせていただく場合がございます。


プログラムについて


※内容は、変更される場合があります。また、進行の都合により時間割が変わる場合がございます。あらかじめご了承ください。

会場(大阪)

日本能率協会・研修室(大阪)


〒530-0001
大阪市北区梅田2-2-22 ハービスENTオフィスタワー19階
TEL:06-4797-2050

交通アクセス


阪神梅田駅/地下鉄四つ橋線 西梅田駅 より徒歩1分
JR大阪駅 (桜橋口) より徒歩2分
JR北新地駅 より徒歩4分
地下鉄御堂筋線 梅田駅 より徒歩5分
阪急梅田駅 より徒歩12分

お申込み

参加者区分(割引参加料を適用します。当てはまる条件をお選びください。)

参加者区分

  • ※日本能率協会法人会員企業一覧を確認する
  • ※「日本能率協会法人会員参加料」は、申込区分を「個人申込(個人参加)」にした場合は適用されません。適用を希望される場合は必ず「法人申込」をお選びいただき、会社情報をご登録ください。

※団体名を入力してください。

団体名: 

参加日程

下記項目からお申込みされる日程の参加料欄にチェックを入れてください。
(複数チェック可)

お申込み受付を終了しました。

終了したセミナーを表示する

開催期間会場タイトル参加料(税抜き)

開催期間

2019/07/04 木

会場

大阪
(日本能率協会 関西事務所 研修室)

FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック

参加料

開催中止

以上の内容で申込み日程を追加する場合は、「申込み日程を追加」ボタンをクリックしてください。

〔追加済みの申込み日程〕

申込み日程を追加してください

申込み日程を追加する >>

申込み注意情報

※注意事項は必ずお読みください

すべての情報を見る

キャンセル規定及び、申込規定をご確認ください

Web申し込み以外の申し込み方法はこちらから

エクセルでのお申し込みはこちら

ファックスでのお申し込みはこちら

海外からの参加お申込みについて

海外からの参加お申込みは、お問い合わせページよりご連絡ください。

キャンセルについて

参加者のご都合が悪い場合は、代理の方がご出席ください。
代理の方もご都合がつかない場合は、下記の通り、所定の手続きをお取りいただきます。

  1. キャンセルの場合は、FAX(03-3434-5505)または、お問い合わせページからご連絡ください。
    折り返し所定の手続きについてご連絡いたします。
  2. お送りした参加証・請求書は必ずJMAマネジメントスクールへご返送ください。
    キャンセル料が発生する場合は別途、請求書をお送りいたしますので、
    お振込期限までにお支払いください。
  3. すでにお振り込み済みの場合は、差額をご返金いたします。返金口座をご連絡ください。
  4. キャンセル料はお振込みの有無にかかわらず下記のとおりです。
    キャンセルご連絡日 キャンセル料
    開催8日前以前(開催当日を含まず) 無料
    開催7日前~前々日(開催当日を含まず) 参加料の30%
    開催前日および当日 参加料の全額
  5. 無断でご欠席された場合も参加料の100%を申し受けます。

※一部セミナーにおいて上記キャンセル規定と異なる場合がございますので、
ご確認のうえお手続きをお取りいただきますようお願い申しあげます。

プログラム内容についてのお問い合わせ先

一般社団法人日本能率協会 関西事務所  お問合せフォームはこちら  TEL : 06-4797-2050

残席確認やお申込みについてのお問い合わせ先

※ 残席わずか/満席の表示がないもの、開催が1週間以上先のものについてはご確認いただかなくともそのままお申込みいただけます。
JMAマネジメントスクールお問合せフォームはこちら  TEL : 03-3434-6271

セミナーID:150937

JMA150937

FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック

ページトップへページトップへ