開催概要
対象
・研究開発・技術部門の方
・品質保証・分析部門の方
・製品トラブル解決に関わる方
ねらい
ものづくりにおいて「機器分析」は必要不可欠です。研究開発はもちろん、品質保証に関わる製品試験、不具合トラブル解決などさまざまな場面で分析が必要になるでしょう。
実験が主役ととられるケースも少なくないですが、
分析と実験は切っても切り離せないものであると理解しなければなりません。
しかし現実には、①個々の分析手法の理解が不足している ②分析の進め方（分析設計）ができていないといったことが頻発しています。これでは真実の姿は何も見えてきません。
本セミナーでは、機器分析手法の解説にはじまり、ものづくりや問題解決のための手法選択、分析の進め方といった分析設計について事例紹介やケーススタディを交え、詳細に解説します。
オンライン受講のご案内
・テレビ会議ツール「Zoom」で配信します。事前に
接続テストにアクセスいただき、動作をご確認ください。
・１申込につき１名様がご受講ください。（著作権の観点から１申込で複数の方のご受講はお受けしません）
・原則としてカメラをオンにしてご受講いただきます。快適な受講環境のため、イヤホンやヘッドセット、外部スピーカーを使用しての受講をおすすめします。
※申込時には当日受講される方のメールアドレスを必ず登録してください。
・本セミナーの講義資料および配信映像の録画、録音、撮影など複製ならびに二次利用は一切禁止です。
・Zoomにおけるリモート制御ならびにレコーディング機能はホスト側にて停止させていただきます。
※お申込みの前に必ず
オンラインLIVEセミナー規約をご確認ください。お申込み完了を以て規約に同意したことといたします。
プログラム
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項目 |
内容 |
1日
10:30～16:30 |
1.イントロダクション |
・分析とは
・分析の位置づけ 『悪しき誤解』
・関係性と背景
・高機能化の弊害の注意点
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2.分析活用の場面 |
・主なタイプ
・品質管理
・トラブル対応
・開発（R&D）
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3.分析設計 |
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4.接着・剥離を例とした実例 |
・分析設計（分析フロー）
・不良要因
・不良の分類
・問題解決アプローチ例
・ファーストアプローチ
・現状確認
・対象別候補手法例
・複合要素の分離
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5.手法選択 |
・材質による選択
・場所、領域による選択
・情報による選択
・分析手法リスト
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6.代表的分析手法 |
・赤外分光法
・ラマン分光法
・X線光電子分光法（ＸＰＳ，ＥＳＣＡ）
・オージェ電子分光法（AES）
・二次イオン質量分析法（SIMS）
・X線マイクロアナライザ（EPMA）
・ＳＥＭ、ＴＥＭ
・走査型プローブ顕微鏡（SPM）
・クロマトグラフィー
・熱分析
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7.ケーススタディー |
・ケース①：異物
・ケース②：汚染
・ケース③：劣化
・ケース④：条件検討、モニタリング
・ケース⑤：インライン
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8.事例＆演習 |
・異物分析
・配線上異物
・アルミ上異物（シミ）
・アルミ上ハジキ（汚染）
・塗膜ハジキ（ハイブリッド分析）
・フィルム上異物（ハイブリッド分析）
・混合物分析
・フィルム上汚染
・紫外線照射フィルムの解析
・イメージング測定
・プロセス評価（リアルタイム）
・表面変質層の深さ方向分析
・時間分解測定
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9.まとめ |
・質疑
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※内容は、変更される場合があります。また、進行の都合により時間割が変わる場合がございます。
あらかじめご了承ください。
ご案内
講師紹介（敬称略）
奥村 治樹
ジャパン・リサーチ・ラボ 代表
定員について
参加人数が最少催行人数に達しない場合は、延期もしくは中止にさせていただく場合がございます。
〒105-8522 東京都港区芝公園3-1-22 
